光学测量技术大师班 – 会视频
Roger 拥有光学表面形貌测量领域的多项专利。\n他还是 ISO 25178 技术委员会成员。\n2001 年成为 Sensofar 的联合创始人。\n自 1997 年至今，Roger 一直在传感器、仪器和系统开发中心 (CD6) 工作，担任光学工程师研究员。Roger 从 2005 年至今一直是 ISO25178 标准 TG WG16 委员会成员，该标准被广泛用于 Sensofar 开发设备的相关领域。他目前任 Sensofar Tech SL 的总裁兼首席技术官。\n
当今市场上的许多系统都采用了光学测量技术，使用户能够获得他们在表面测量作业中所需的测量数据。
运用最广泛的技术包括：条纹投影、共聚焦、干涉测量和多焦面叠加。
在我们最杰出的专家Roger Artigas 博士的指导下，我们将简化这些光学技术，向您提供有关何时以及如何使用它们的指南。
关键主题
表面测量中的主要光学技术的工作原理
比较市面上最常用的技术
测量厚膜和薄膜的区别
每种技术的优点和缺点清单
结合 3D 光学技术的好处
观看网络研讨会
Fringe Projection, Ai Focus Variation & Confocal
Interferometry & Thickness Measurement
