工业 & 研发
通用型光学轮廓仪
提供各类非接触式 3D 表面轮廓仪，皆配备多功能系统，能够在不同的表面尺度上测量不同的纹理、结构、粗糙度和波度。
Sensofar 的通用系统适用于各种高精度表面测量应用。
多功能
Sensofar推出的光学检测系统融合了多种光学测量技术，具体包括共聚焦，白光干涉，主动照明多焦面叠加，以及反射光谱等方法。用户可以根据待测产品的特征来选择合适的方法以获得准确的测量效果。另外，为了让质量管控更加便捷，我们开发了简单明了的用户自定义的自动测量模块。这些特点让我们的产品成为了研发与产品质量管控的利器。
易于使用
Sensofar 致力于为客户提供务实且易用的产品。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。软件的模块化设计，使系统能够满足用户多样的需求。
解决方案
针对不同待测样品的特点（样品尺寸，其表面纹理，粗糙度，波度等），我们提供一系列各有特色的产品。
针对不同待测样品的特点（样品尺寸，其表面纹理，粗糙度，波度等），我们提供一系列各有特色的产品。
S wide能够在单个视野中测量较大范围，常用于对测量速度要求高的应用。另外，也常用来进行形状测量等。
大范围测量
形状，轮廓，粗糙度等
S neox集众多测量方案于一体，并且能够很容易的实现自动化测量。是市面上用途广泛的光学测量产品。
大范围测量
测量操作易于自动化
市面上高速的共聚焦测量产品
S neox 5轴 是在 S neox 产品的基础上集成了高精度的旋转轴模块，从而使得轴对称样品的测量更加容易实现自动化。
包含了S neox 的所有功能
旋转模块 (3D形状测量)
S lynx 2 是一款紧凑型多功能 3D 光学系统，用于粗糙度、体积和关键尺寸测量。
扩展测量
三种测量技术的快速收购
S neox Grand Format 为半导体、显示器和印刷电路板行业的大型面板的表面三维测量提供了从硬件到软件的完整解决方案
600 x 600 毫米的宽广移动范围
经认证可用于半导体表征
600 x 600 毫米的宽广移动范围
经认证可用于半导体表征
S neox Grand Format 为半导体、显示器和印刷电路板行业的大型面板的表面三维测量提供了从硬件到软件的完整解决方案
条纹投影 
Ai 多焦面叠加 
共聚焦 
干涉 
反射光谱
测量结果分析软件
根据您的不同需求，我们为您推荐并提供适合您的软件方案来分析您的测量结果。无论您是科研需求，还是产品质检需求，我们的引导式分析软件都将为您提供便捷的服务。
根据您的不同需求，我们为您推荐并提供适合您的软件方案来分析您的测量结果。无论您是科研需求，还是产品质检需求，我们的引导式分析软件都将为您提供便捷的服务。
SensoVIEW
功能强大的分析软件
是处理各种分析任务的 理想软件。它包含一套全面的工具， 完成粗糙度或体积计算，并使用一 套分析工具测量关键尺寸
SensoPRO
高效质量管控
在生产线上执行快速质量控制从未显得如此简单。
基于插件的数据分析算法提供了高度的灵活性。
SensoMAP
支持用户编程处理测量数据
SensoMAP 是一款功能强大的分析和报告工具，它是基于 Digital Surf 的 Mountains 技术而开发。已完全模块化，以适应客户需求。
SDK
软件开发包
是 一组可以远程控制一个或多 个传感器的工具。它生成并 管理客户端计算机和多个传 感器之间的通信
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