标准配置中包含了极其丰富的功能
我们追求将多功能性发展到更好：S neox 采用四合一测量技术，为不断变化的应用要求提供了无与伦比的适应性，并在各种不同的表面上提供更大的测量灵活性。
一些核心算法的创新设计提高了所有相关成像技术的速度和能力。
同时可以选择搭配压电陶瓷晶体扫描，使S neox 的系统具有更高性能。例如在膜厚测量方面，可以使 S-neox 涵盖从50nm到5mm的膜厚测量。
我们的测量系统有自动优化测量设置的功能。您只需要聚焦于待测表面，其他的事情您可以交给Sneox自动完成。
解答您的疑问！
与我们取得联系
与我们取得联系
只需给我们发送电子邮件或搜索
您附近的直接联系人即可。
您附近的直接联系人即可。
解答您的疑问！
与专家联系
与专家联系
只需给我们发送电子邮件或搜索
您附近的直接联系人即可。
您附近的直接联系人即可。
