半导体和微电子行业的光学测量解决方案
Adam M. Platteis 毕业于约克学院，于 2018 年加入 Sensofar，担任公司的美国销售经理。在加入 Sensofar Metrology 之前，Platteis 在卡尔蔡司显微镜公司工作了 10 年，负责为半导体、微电子和其他工业市场提供解决方案。
此次网络研讨会讨论了 PCB 应用中的具体质量控制分析。会中还将探讨临界尺寸测量、粗糙度和缺陷识别等话题。演讲者 Adam Platteis 和 Alberto Aguerri 将展示符合 ISO 4287、ISO 25178 标准的解决方案，以及 Sensofar 的专有软件如何快速识别轮廓、粗糙度参数以及表面纹理、高度和痕迹缺陷。重点将放在成像晶片、垫片、台阶高度、键合和探针卡上。
Sensofar 解决方案适用于研发实验室以及在线质量保证/质量控制高通量环境，并具有自动化“合格/不合格”报告功能。Sensofar 提供独立和可定制的解决方案，将共聚焦、干涉测量和多焦面叠加技术集成到半导体和微电子行业的单个测量头中。
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