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网络研讨会和讲座

使用 HR 光学 3D 表面测量进行定量测量和自动化子弹比对 – 会视频

网络研讨会和讲座
photoTeam_CristinaCadevall
软件副总裁,物理学博士(光学工程),电信技术工程,电子工程 at Sensofar Metrology | Other articles

2004 年成为 Sensofar 的合伙人。
Cristina 是经验丰富的研发专家,自 1996 年起便在 CD6 担任研发工程师,而自 Sensofar Tech SL 于 2001 年成立以来,她一直担任软件经理,并自 2017 年起担任软件副总裁。她的研究方向包括光学测量、表面形貌测量学、图像处理和计算科学。她从 2010 年起开始研发三维 (3D) 形貌分析在枪支分析中的使用。

枪支和工具标记分析学科的一个总体目标是提供可量化的客观信息,以协助检查员进行例行的案例研究。

对子弹表面的 3D 测量可以在任意两个表面之间进行量化的数学比对,从而可以补充提供定性信息的传统比对显微镜或 3D 虚拟显微镜。

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Cristina Cadevall
Cristina Cadevall
2004 年成为 Sensofar 的合伙人。 Cristina 是经验丰富的研发专家,自 1996 年起便在 CD6 担任研发工程师,而自 Sensofar Tech SL 于 2001 年成立以来,她一直担任软件经理,并自 2017 年起担任软件副总裁。她的研究方向包括光学测量、表面形貌测量学、图像处理和计算科学。她从 2010 年起开始研发三维 (3D) 形貌分析在枪支分析中的使用。
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