Neuigkeiten
Wir freuen uns, eine verbesserte Version des optischen Profilometers S wide vorzustellen. Dieses bemerkenswerte System, das für blitzschnelle Messungen großer Flächen entwickelt wurde, bietet jetzt neue Funktionen, um Ihre Charakterisierungsprozesse zu optimieren.
Inspirierende Metrologie: Ein Gespräch mit Jackie Garofano, Chief Technology Officer am Connecticut Center for Advanced Technology (CCAT).
Sensofar freut sich, ein revolutionäres Patent anzukündigen, das die Landschaft der optischen Messungen neu definieren wird.
We are pleased to announce our renewal collaboration with MTC for an additional three years by providing them with our innovative S wide.