新しいS onixによる高速表面計測
Sensofar Metrologyから、新しい高速非接触3D表面センサー、S onixがリリースされました。S onixは、高速インラインプロセス測定とプロセス制御タスクを目的に設計された極めてコンパクトな新しい表面計測システムです。技術的表面の3Dマイクロジオメトリーとナノジオメトリーの高速、非侵襲測定（表面粗度、テクスチャと構造化、厚み測定を含む）を必要とする垂直分解能1 nmでの表面測定用途に特別設計されています。
この性能を達成するため、S onixセンサーヘッドは、単一測定テクニック（干渉法 – VSI）を特長としますが、これを特別な測定アルゴリズムおよび高速VGA分解能カメラ（高フレームレートでのフリンジ撮像に対して理想的な適合性）と組み合わせています。この結果、市場にある競合他社のシステムよりも最大で7倍速い高分解能表面計測測定を実行する能力を備えたシステムが誕生しました。
S onixは、単一白色長寿命LED光源、高速カメラ（最大350 fps）、単一のアプリケーション別対物レンズを装備して提供されます。このセンサーヘッドには可動部品がないため、長期的な安定、正確な測定再現性、および非常に長い寿命を実現しています。製造システムに完全に統合することで、この測定用固定（および自動）基準フレームは、プロセス最適化の向上を実現します。
新しく開発されたソフトウェアインターフェイス、SensoSCAN 6は、さらに直感的なインターフェイスを提供し、現行の表面測定ベンチマーク（ISO標準など）にも適合します。SensoSCANには、カスタマイズ可能なツール機能と自動化インラインプロセス用途向けに特別設計されたパワフルな新分析アルゴリズムも搭載されており、付属のSDKを使用してシステム全体ですべて簡単にアクセスできます。
S onixは、自動車、航空宇宙、レーザーマーキング、LCD、マイクロエレクトロニクス、マイクロ製造、ペーパーコーティング、半導体、ツーリングの産業分野に最適です。
Sensofar Metrologyは、Control 2016においてこの新システムを展示します。
