産業・研究
非接触3D表面測定
組込み
組込み可能な測定ソリューション
SENSOFAR EVENT’24
Explore innovations together
Our Sensofar Event’24 showcased the latest innovations in optical metrology and software portfolio.
This Sensofar press release details the most important releases.
On this Sensofar Event’24 page you can watch the entire event video.
The standout systems from the launch were the S lynx 2 and the S neox Grand Format.
非接触3D表面測定
真のイノベーションを体感
3D表面測定は、自然のまたは加工された表面上のマイクロおよびナノスケールの構造を測定し、特性評価をすることです
非接触3D表面測定
真のイノベーションを体感
3D表面測定は、自然のまたは加工された表面上のマイクロおよびナノスケールの構造を測定し、特性評価をすることです
アプリケーション
アプリケーションを探す
Sensofarは、先進製造やコンシューマエレクトロニクス分野におけるアプリケーションで培った経験により、特定のニーズを理解して、それぞれに合ったソリューションを提供することができます。当社のソリューションページをご覧いただき、あなたのアプリケーションを見つけてください。
アプリケーション
アプリケーションを探す
Sensofarは、先進製造やコンシューマエレクトロニクス分野におけるアプリケーションで培った経験により、特定のニーズを理解して、それぞれに合ったソリューションを提供することができます。当社のソリューションページをご覧いただき、あなたのアプリケーションを見つけてください。
私たちとさらに学ぶ
エキスパートになろう！
Sensofarでは、3D光学測定の分野でさまざまなトピックに関するウェビナーやライブイベントを定期的に開催しています。 出席する時間がない場合は、 最大10の記録されたウェビナーがいつでもご視聴できます！
原理
3D光学測定技術の向上
高性能な光学プロファイラとして設計され、いくつかの装置には3D光学測定技術が結集されており、従来の光学プロファイラを凌駕します。
最新のテクノロジーと包括的なソフトウェアにより、市場競争力を最大限に高めたハイレベルな装置です。
私たちとさらに学ぶ
エキスパートになろう！
Sensofarでは、3D光学測定の分野でさまざまなトピックに関するウェビナーやライブイベントを定期的に開催しています。 出席する時間がない場合は、 最大10の記録されたウェビナーがいつでもご視聴できます！
お客様の声
-
"Sensofar collaborates closely with us, selecting the specific profilometer and additional options that best suit the particular samples and imaging requirements."
Lauren Zarzar, Nate Sturniolo, Caleb Meredith, and Amy Goodling
-
「Sensofarの3D光学式形状測定装置S neoxによって、レーザー技術を使用して製作したマイクロチャンネルのトポグラフィーの特性を簡単に評価することができました。」
研究グループ
-
"With the S mart 3D profilometer, it is possible to more accurately measure the volume loss of wear tracks after friction and wear tests, as it measures the actual shape of the wear track."
Adrián Claver and José Antonio García Lorente
-
「Sensofar独自の共焦点法と焦点移動法を組み合わせたConfocal Fusionによって、ガラスやPMMAなどの透明材料の画像を取得することができました。」
Raul Garcia
-
「3D光学式形状測定装置S neoxは、マシニングスペシャリストによる欠陥原因ツールの特定や連続生産中の摩耗追跡を可能にし、生産工程管理と結果の改善を実現します。」
Karine de Freitas
-
"At GPAINNOVA, the S neox Five Axis is specifically used to quantify the quality of the polishing process and document the reduction in roughness in samples after polishing with DLyte."
Yaiza Gomez, David Gutierrez, Laura Abellan and Paul Berenguer
-
"With the S neox Five Axis, anything is possible. Steep angles and very small cutting edge measurements of a few micrometers are no longer a problem for 3D optical profiling."
Thomas Forrer & Paco Neuhaus
-
"The S neox optical profiler has been essential to understanding how laser texturing enhances the functional performance of cylinder liner segments."
Niall Burtt, Paul Butler-Smith, Tian Long See
-
「Sensofarの3D光学式形状測定装置S neoxによって、レーザー技術を使用して製作したマイクロチャンネルのトポグラフィーの特性を簡単に評価することができました。」
研究グループ
-
"With the S neox Five Axis, anything is possible. Steep angles and very small cutting edge measurements of a few micrometers are no longer a problem for 3D optical profiling."
Thomas Forrer & Paco Neuhaus
-
"The S neox optical profiler has been essential to understanding how laser texturing enhances the functional performance of cylinder liner segments."
Niall Burtt, Paul Butler-Smith, Tian Long See
-
"Sensofar collaborates closely with us, selecting the specific profilometer and additional options that best suit the particular samples and imaging requirements."
Lauren Zarzar, Nate Sturniolo, Caleb Meredith, and Amy Goodling
-
「3D光学式形状測定装置S neoxは、マシニングスペシャリストによる欠陥原因ツールの特定や連続生産中の摩耗追跡を可能にし、生産工程管理と結果の改善を実現します。」
Karine de Freitas
-
"At GPAINNOVA, the S neox Five Axis is specifically used to quantify the quality of the polishing process and document the reduction in roughness in samples after polishing with DLyte."
Yaiza Gomez, David Gutierrez, Laura Abellan and Paul Berenguer
-
"With the S mart 3D profilometer, it is possible to more accurately measure the volume loss of wear tracks after friction and wear tests, as it measures the actual shape of the wear track."
Adrián Claver and José Antonio García Lorente
-
「Sensofar独自の共焦点法と焦点移動法を組み合わせたConfocal Fusionによって、ガラスやPMMAなどの透明材料の画像を取得することができました。」
Raul Garcia
