S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
S wideは、最大300×300mmの大面積サンプルでも素早く計測できる測定システムです。デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備え、ボタンひとつでデータを取得できる非常に使い易いデザインになっています。
ソリューション
ワンショット 光学式3D形状測定システム
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品（CE）
医療機器
モールディング
光学
時計
ソリューション
ワンショット 光学式3D形状測定システム
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品（CE）
医療機器
モールディング
光学
時計
高度な製造・加工
考古学・古生物学研究
大衆消費電化製品（CE）
医療機器
モールディング
光学
時計
広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性
広い面積全体で、サブミクロンオーダーの高さ再現性
Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測
Z軸スキャンせずにワンショットで最大40mmの高さ範囲を計測
フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能
フィールド歪みが非常に少ないバイテレセントリックレンズ採用で、正確な計測が可能
ISO規格
トレーサビリティ
すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。
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トレーサビリティ
すべてのS wideは、正確でトレーサブルな測定を提供します。ISO 25178 および VDI 2634-2準拠のトレーサブル標準で校正。
3D-CADモデルからの形状偏差測定
幾何学的差異と公差を測定
3D-CADモデルからの形状偏差測定
幾何学的差異と公差を測定
トレーサビリティ
表面性状測定装置のキャリブレーション
Sensofarのシステムはすべて、高精度な追跡可能な測定データを提供するように生産されています。システムはISO 25178第7部 に従って以下の追跡可能な基準を使用してキャリブレーションされます。Z増幅係数、XY横方向寸法、平坦度エラー、一軸性、同焦点性。
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