光学測定方法マスタークラス
光学式表面測定の分野において複数の特許を保持。\nISO 25178の技術委員。\n2001年にSensofarを共同創設。\n1997年よりCentre for Sensors, Instruments and Systems Development (CD6)の光学エンジニア研究員を務める（現任）。2005年よりSensofarの装置開発に適用されるISO25178規格のTG WG16委員を務める（現任）。Sensofar Tech SL社長兼CTO（現任）。\n
現在の市場の多くシステムで採用されている光学測定法を活用して、ユーザーは表面計測業務で必要な測定値を取得することが可能です。
最もよく使用される技術：フリンジプロジェクション法、共焦点法、光干渉法、焦点移動法。
弊社の最も経験豊かなエキスパートDr. Roger Artigasが、これらの複雑な光学測定法を簡略に説明し、いつどのように使用ればよいのかを紹介します。
主なトピック
主要な光学式表面形状測定法の動作原理
市場で最もよく使用されている技術の比較
厚膜と薄膜の測定の違い
それぞれの技術の長所と短所
3D光学測定法を組み合わせる利点
