Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist es darüber hinaus ganz leicht zu bedienen.
LÖSUNGEN
Optisches 3D-Messsystem für große Flächen
Advanced Manufacturing
Archäologie und Paläontologie
Unterhaltungselektronik
Medizinische Geräte
Formverfahren
Optik
Uhrenbau
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für große Flächen
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Höhenwiederholbarkeit im Sub-Mikrometer-Bereich über den gesamten erweiterten Messbereich
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One-Shot-Höhenmessung bis zu 40 mm ohne Z-Scan
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Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
Bi-telezentrische Linsen mit sehr niedriger Feldverzerrung für präzise Messergebnisse
ISO-NORMEN
Rückführbarkeit
Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
ISO-NORMEN
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Jedes S wide ist darauf ausgelegt, präzise und rückführbare Messergebnisse zu liefern. Die Systeme werden unter Verwendung rückführbarer Standards gemäß ISO 25178 und VDI 2634-2 kalibriert.
Formabweichung von 3D-CAD-Modellen
für die geometrische Differenz- und Toleranzmessung
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RÜCKVERFOLGBARKEIT
Kalibrierung von Messgeräten für die Oberflächentextur
Alle unsere Systeme sind so hergestellt, dass sie genaue und nachvollziehbare Messungen liefern. Systeme werden unter Verwendung rückverfolgbarer Standards gemäß den ISO 25178-Richtlinien von Teil 7 kalibriert für: Z-Verstärkungsfaktor, XY-Querabmessungen, Ebenheitsfehler sowie Parzentrizität und Parfokalität.
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