ISO規格
ISO規格
表面性状の特性評価
ISO 25178: 製品の幾何特性仕様（GPS）– 表面性状: 三次元は、国際標準化機構の三次元表面性状の解析に関する国際標準です。これは、三次元表面性状の仕様と測定を考慮する初の国際標準で、特に三次元表面性状パラメータと関連仕様の演算子を定義しています。
ISO 25178: 製品の幾何特性仕様（GPS）– 表面性状: 三次元は、国際標準化機構の三次元表面性状の解析に関する国際標準です。これは、三次元表面性状の仕様と測定を考慮する初の国際標準で、特に三次元表面性状パラメータと関連仕様の演算子を定義しています。
一般的に自然面と加工面はどちらも、一次形状またはフォームで構成されており、さまざまな度合いの構造、うねり、粗さ（2D/3D）を有しています。 これらの表面フィーチャのすべてが意図的または非意図的な（制御内/制御外の）効果を生じています。
これらの影響の相対的な重要性はその応用によって決まります （管理されていない影響が必ずしも不適当とは限りません）。 測定の目的は、基本的な科学研究結果の裏付けとしてや特定の工業応用に関して、それぞれの影響を定性的・定量的に評価することです。
分野や応用によって、構造、うねり、粗さの影響は 仕上げ、ハプティック、テクスチャ、欠陥、痕、微小摩耗 などに区分されます。 ユーザーは重要寸法、段差、山と谷の差、体積、傾斜の決定や、コーティング厚さやその他の表面特徴のマッピングを目的としている場合もあります。
一般的に自然面と加工面はどちらも、一次形状またはフォームで構成されており、さまざまな度合いの構造、うねり、粗さ（2D/3D）を有しています。 これらの表面フィーチャのすべてが意図的または非意図的な（制御内/制御外の）効果を生じています。
これらの影響の相対的な重要性はその応用によって決まります （管理されていない影響が必ずしも不適当とは限りません）。 測定の目的は、基本的な科学研究結果の裏付けとしてや特定の工業応用に関して、それぞれの影響を定性的・定量的に評価することです。
分野や応用によって、構造、うねり、粗さの影響は 仕上げ、ハプティック、テクスチャ、欠陥、痕、微小摩耗 などに区分されます。 ユーザーは重要寸法、段差、山と谷の差、体積、傾斜の決定や、コーティング厚さやその他の表面特徴のマッピングを目的としている場合もあります。
三次元表面性状の決定がその目的の場合、その結果は一般的になりつつある ISO 25178規格 が定義する適切なパラメータに厳しく拘束されます。工業（表面）製造では、一般的な標準に基づくベストプラクティスを採用することで、製造における効率性、再現性、トレーサビリティを高めることができます。
代表的な応用セクターには、一般的な科学研究、材料研究、自動車、航空宇宙、消費者エレクトロニクス、医療テクノロジー、ツーリング、光学、光エレクトロニクスなどが含まれます。特定の応用分野としては、付加製造、レーザー、医療インプラント、モデリング、光学部品、PCB、半導体、ナノテクノロジー、マイクロ製造、光学などがあります。
多岐にわたる科学・工業分野での応用で、3D表面と2Dプロファイルの測定作業が幅広く適用されています。このことからも、Sensofar Metrologyの「4-in-1」アプローチの高い実用性がはっきりと示されています。
表面フィルタリング
項、定義、表面性状パラメータ
表面性状の特性評価において、該当するスケールを選択するためにフィルタリングが不可欠です。以下の方式は、ISO 25178第2部に含まれるフィルタ、演算子、三次元測定に適用されるフィルタ、演算子、表面の各種類に関する定義に基づいています。
アルゴリズム
三次元トポグラフィー測定方法の計測学的特徴
Sensofarが開発したすべてのテクノロジーが実装され、ISO 25178第6部に三次元トポグラフィー測定方法の計測学的特徴として定義される基準を満たしています。
Sensofarが開発したすべてのテクノロジーが実装され、ISO 25178第6部に三次元トポグラフィー測定方法の計測学的特徴として定義される基準を満たしています。
トレーサビリティ
表面性状測定装置のキャリブレーション
Sensofarのシステムはすべて、高精度な追跡可能な測定データを提供するように生産されています。システムはISO 25178第7部 に従って以下の追跡可能な基準を使用してキャリブレーションされます。Z増幅係数、XY横方向寸法、平坦度エラー、一軸性、同焦点性。
SensofarのISOメンバーシップ
ISO 25178の主な内容
第2部: 項、定義、粗さパラメータ
第3部: 仕様演算子 – フィルタ
surface texture
to surface texture
characterization
