S wideは、デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を兼ね備えた測定器です。わずかワンショットで、Z軸スキャンせずに、35×29mmのXY領域と最大40mmの高さ範囲を測定します。

独自のフリンジ投影技術とテレセントリックレンズの組み合わせにより、優れた性能とわずか1µmのシステムノイズを実現しています。