Sensofarの卓越した新しい3D光学式形状測定装置のすべてを学んで、表面粗さ測定の可能性を広げてください。S wideでは、デジタル顕微鏡の利点が高解像度・高速走査測定装置に組み込まれています。
主なトピック
日常業務がはかどる使いやすさ。Z軸走査なしで最大40 mmの高さを1回で測定可能。
広い面積全体でのサブミクロン高さ繰り返し性を実現。
5メガピクセルカメラ搭載で最適な解像度で色を捉えます。
日常的な内部プロセスへの効果的な統合を目的とした3D CADモデルからの形状偏差。
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主なトピック
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広い面積全体でのサブミクロン高さ繰り返し性を実現。
5メガピクセルカメラ搭載で最適な解像度で色を捉えます。
日常的な内部プロセスへの効果的な統合を目的とした3D CADモデルからの形状偏差。